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當前位置：首頁 / 產(chǎn)品中心 / 其他專用儀器 / 測定儀 / H11935顆粒物采樣儀
產(chǎn)品簡介
顆粒物采樣儀采樣粒徑：TSP、PM10、PM2.5和PM1.0，用戶可按需選擇；采樣流量：1.00m3/min ±1%；
產(chǎn)品分類
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2026-01-232025-12-232025-11-242025-10-24| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 | 電源： | AC, 180-230V，50Hz |
大流量空氣顆粒物采樣器/顆粒物采樣儀 型號:H11935
顆粒物采樣儀采樣粒徑：TSP、PM10、PM2.5和PM1.0，用戶可按需選擇；
采樣流量：1.00m3/min ±1%；
環(huán)境參數(shù)測量：儀器可實時測量和記錄采樣期間溫度、濕度、風速和氣壓（海拔）等各種氣候參數(shù)，數(shù)據(jù)U盤導出；
參數(shù)設置及數(shù)據(jù)顯示：可任意進行采樣及控制參數(shù)的設置、修改和存儲。微電腦時控開關，智能化采樣時間控制；
環(huán)境適用溫度：-20℃至+50℃；
功率：儀器功率< 800W；
電源：AC, 180-230V，50Hz
尺寸及重量：480mm×480mm×1650mm（長×寬×高）；60Kg
2.數(shù)顯激光功率計 型號:H11933
本儀器在Ⅱ型激光功率計基礎上改用3?數(shù)顯表，是一種寬數(shù)字顯示的檢測激光輸出功率的精密儀器，測量誤差小。
測量范圍：0～199.9mW（自動進位換檔）
3.熱縮試驗儀/熱收縮性能儀 型號:H11932
適用于各種薄膜、熱縮管、藥用PVC硬片、背板等材料在多種溫度下的液體介質中進行熱收縮性能及尺寸穩(wěn)定性的測試。
特 性
微電腦控制、液晶顯示數(shù)據(jù)
菜單式界面、PVC操作面板
液體介質加熱
P.I.D溫度監(jiān)控
自動計時
試樣夾持薄膜網(wǎng)架
適用于各種薄膜、熱縮管、藥用PVC硬片、背板等
材料在多種溫度下的液體介質中進行熱收縮性能及尺寸穩(wěn)定性的測試。
試樣尺寸：≤140mm×140mm
溫度范圍：室溫～200℃
控溫精度：±0.3℃
電 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：440mm(L)×370mm(B)×310mm (H
凈 重：24kg
標 準GB/T 13519、ASTM D2732
標準配置：主機、夾持網(wǎng)5套、夾持網(wǎng)托架3件
選 購 件：夾持網(wǎng)、夾持網(wǎng)托架
4.摩擦系數(shù)/剝離試驗儀/摩擦系數(shù)儀 型號:H11931
H11931 專業(yè)適用于塑料薄膜、薄片、箔片、紙張、紙板、編織袋、織物風格、通信電纜光纜用金屬材料復合帶、輸送帶、紡織、造紙等相關材料的動、靜摩擦系數(shù)和膠粘復合制品、離型紙、保護膜等產(chǎn)品的剝離強度測定。
摩擦系數(shù)、180°剝離二種試驗模式
寬范圍、高精度溫度控制裝置輕松實現(xiàn)試樣在不同溫度下的測試
七檔試驗速度、三檔試驗量程可以滿足用戶不同的測試條件
該儀器滿足GB、ISO、ASTM多種測試標準，測試方法可按用戶需求任意選擇
儀器試驗臺面和測試滑塊均經(jīng)過消磁處理和剩磁檢測，有效地降低了系統(tǒng)測試誤差
系統(tǒng)由計算機和微處理器共同控制，方便用戶快速進行試驗操作
專業(yè)軟件提供測試結果曲線疊加統(tǒng)計分析，準確直觀地將測試結果展示給用戶
標準的RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持實驗室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗結果和試驗報告
基礎應用 薄膜 適用于塑料薄膜、薄片的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
紙張 適用于紙張、紙板的動、靜摩擦系數(shù)測試
紡織品、無紡布、
橡膠 適用于橡膠的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
鋁箔、鋁箔復合膜、
金屬制品 適用于鋁箔、鋁箔復合膜、金屬制品的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
印刷品 適用于印刷品的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
擴展應用 高溫測試 適用于高于室溫條件下，某種材料的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
木材、地板材料 適用于木材、地板材料的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
膠片測試 適用于膠片的靜摩擦系數(shù)和動摩擦系數(shù)測試
手機屏與皮革 適用于手機屏幕與皮革等材料的摩擦系數(shù)測試
膠粘制品剝離強度 適用于膠粘復合制品的剝離強度測試
保護膜 適用于手機保護膜、計算機保護膜等的剝離強度測試
磁卡的剝離強度 適用于磁卡貼膜與磁卡的剝離強度測試
指標 參數(shù)
負荷量程 0 ～ 5 N ， 0 ～ 10 N ， 0 ～ 30 N
精度 0.5 級
滑塊質量 200g ( 100g 、500g、1000g、 1814g 、2000g 等另購）
試驗速度 50 100 150 200 250 300 500 mm/min
試驗溫度 室溫 ～ 99.9℃
電源 AC 220V 50Hz
外形尺寸 850 mm (L) × 350 mm (W) × 290 mm (H)
凈重 30 kg
5.相位法光速測量儀 光速測量儀 型號：H11913
對激光光束直接進行100MHz的高頻調制，移動反光鏡通過測量近程光與遠程光的相位差求得調制光的波長，依據(jù)C=f•λ計算出光的傳播速度，即“相位法"。儀器全長0.8m，全部采用半導體器件，性能穩(wěn)定可靠。
測量方法：相位法
儀器全長：0.8m
可變光程：0 – 1m
移相范圍： -
分辨率： 0.2mm
調制頻率：100MHz
測相頻率：455KHz
頻率穩(wěn)定度：
測量精度：小于等于3%
波形幅度起伏小于等于5%
實驗內容擴展性：
1） 含光電接收電平指示插口和模擬通信接口，可開設模擬激光通信實驗（需增購模擬通信收/發(fā)器）
測量透明介質的折射率 / 介質中光速的測量（需增購透明介質棒/管）
以上參數(shù)資料與圖片相對應
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